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PSS納米粒度分析儀ZETA電位分析儀的操作優(yōu)勢(shì)及維護(hù)方法

瀏覽次數(shù):369 發(fā)布日期:2025-12-16  來源:本站 僅供參考,謝絕轉(zhuǎn)載,否則責(zé)任自負(fù)
美國(guó)PSS Nicomp Z3000系列納米粒度分析儀是一款集成了動(dòng)態(tài)光散射(DLS)和電泳光散射(ELS)技術(shù)的先進(jìn)分析儀器,專為納米材料研發(fā)和膠體體系研究而設(shè)計(jì)。該儀器采用軍用級(jí)雪崩光電二極管檢測(cè)器(APD),靈敏度比傳統(tǒng)光電倍增管(PMT)高出3-5倍,為科研工作者提供了前所未有的檢測(cè)精度。
 
核心技術(shù)特點(diǎn):
超寬檢測(cè)范圍:粒徑檢測(cè)覆蓋0.3nm-10μm,ZETA電位測(cè)量范圍達(dá)±500mV
多算法分析系統(tǒng):同時(shí)采用Gaussian單峰算法和專利Nicomp多峰算法,特別適合多組分、不均勻分散體系的分析
高精度溫控系統(tǒng):溫控精度±0.1℃,溫度范圍0℃-90℃,確保測(cè)試條件穩(wěn)定
智能軟件平臺(tái):符合21CFR Part 11規(guī)范,具備自動(dòng)數(shù)據(jù)校準(zhǔn)、異常值剔除功能,支持Excel導(dǎo)出

創(chuàng)新功能模塊:
  • 自動(dòng)稀釋系統(tǒng):可直接處理固含量高達(dá)50%的原樣,避免人工稀釋誤差
  • 多角度檢測(cè)系統(tǒng)(選配):15°-175°可調(diào)檢測(cè)角度,提供更高分辨率的粒徑分布數(shù)據(jù)
  • 自動(dòng)滴定模塊(選配):與瑞士萬通滴定儀聯(lián)用,實(shí)現(xiàn)pH值自動(dòng)調(diào)節(jié)和Zeta電位精確測(cè)定

操作體驗(yàn)優(yōu)勢(shì):
實(shí)際測(cè)試表明,該儀器測(cè)量Zeta電位的重復(fù)性偏差可控制在2mV以內(nèi),單次測(cè)試時(shí)間僅需15分鐘,相比傳統(tǒng)儀器效率提升50%。其專用石英玻璃樣品池設(shè)計(jì)配合35mW大功率激光光源,即使對(duì)低濃度樣品也能獲得穩(wěn)定信號(hào)。測(cè)試完成后,系統(tǒng)自動(dòng)生成包含平均值、標(biāo)準(zhǔn)差和分布圖譜的完整報(bào)告,大大節(jié)省數(shù)據(jù)處理時(shí)間。

 

維護(hù)保養(yǎng)提示: 
建議使用后立即用無水乙醇清洗樣品池,避免樣品殘留;定期使用標(biāo)準(zhǔn)乳膠球進(jìn)行校準(zhǔn),或定期約品牌售后上門調(diào)校;測(cè)試前確保樣品溫度與室溫平衡。這些措施可保證儀器長(zhǎng)期保持最佳工作狀態(tài)。

作為納米材料研發(fā)領(lǐng)域的專業(yè)設(shè)備,美國(guó)PSS Z3000系列以其卓越的測(cè)試精度、高效的工作流程和可靠的數(shù)據(jù)質(zhì)量,已成為眾多科研院所和企業(yè)實(shí)驗(yàn)室的首選分析工具。

 
發(fā)布者:德瑞科儀(廣州)科技有限公司
聯(lián)系電話:400-668-9828
E-mail:derekyq@163.com

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