磁約束等離子體的電子束離子阱光譜研究
（論文部分內容摘抄）
光譜學是所有等離子體的一種有價值的、非侵入性的診斷方法。特別是在加州大學所做的工作一NIA的勞倫斯利弗莫爾國家實驗室(LLNL)電子束離子阱(EBIT)設施繼續(xù)為原子物理建立有用的基準，可用于診斷不太為人所知的等離子體的特性。許多光譜儀已被開發(fā)并用于LLNL電子束離子阱。每一個都是最先進的儀器，其中許多可以適應診斷磁約束等離子體。在這些新環(huán)境中，他們通過提供其他方面無法獲得的等離子體條件數(shù)據(jù)，對科學做出了貢獻。
其中包括用于國家球面圓周實驗(NSTX)的用于軟X射線和極紫外光的平板場放牧入射反射光柵光譜儀。以及一個用于SSPX的較長波長光譜儀。最后介紹了一種高光譜分辨率透射光柵光譜儀給出了在緊湊環(huán)形注入實驗(CTIX)和AlcatorC-Mod托卡馬克裝置上使用的可見光。在所有情況下，EBIT光譜儀都提供了關于等離子體滲透率的寶貴數(shù)據(jù)，因此這些光譜儀已納入這些設施的通用診斷套件，并持續(xù)提供數(shù)據(jù)。
在電子束離子阱中的實驗為了便于理解，再次介紹透射光柵光譜儀的特性以及它在電子束離子阱中的一些用途描述如下。光柵的直徑以及相對較大但焦距較小的聚焦光學允許高光學吞吐量。該探測器是一個二維光度學低溫冷卻，背照式相機這種探測器允帶寬在3600到6700之間的任何地方。電子束的寬度，再次作為一個偽入射狹縫。
本探測器是所述的低讀噪聲照相機是德國pco.edge型號相機，信噪比有了很大的提高。在降低讀出噪聲時所獲得的好處也會在讀出速率(例如1幀/分鐘)中損失。時間分辨率是通過在放電期間將相機垂直地移動通過放電平面來實現(xiàn)的，這使得光譜測量的數(shù)量級為100赫茲。
德國Excelitas PCO公司pco.edge 4.2 bi XU高速相機，采用背照式CMOS傳感器，具有極其特殊的涂層，非常適合用于從可見光到極紫外(EUV)和軟X射線輻射范圍的應用，將極紫外實驗過程完美記錄，為實驗提供強而有力的圖像數(shù)據(jù)支持。
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