單細(xì)胞鋪板成像儀在單克隆建庫中的應(yīng)用

該公司科學(xué)家使用了三種統(tǒng)計(jì)方法進(jìn)行驗(yàn)證，分別是：

統(tǒng)計(jì)方法 1：

統(tǒng)計(jì)幽靈孔出現(xiàn)概率，也就是通過測量“幽靈孔”的出現(xiàn)頻率來評(píng)估——所謂幽靈孔，即最終形成了細(xì)胞克隆、但最初并未被檢測出其中存在單個(gè)或多個(gè)細(xì)胞的培養(yǎng)孔。這一頻率反映了單細(xì)胞克隆方法“漏檢”細(xì)胞的概率，我們將其表示為該方法的分?jǐn)?shù)錯(cuò)誤率 EM：

• EM = 幽靈孔出現(xiàn)頻率

• PoC（單克隆概率）= 1 - 幽靈孔出現(xiàn)頻率

統(tǒng)計(jì)方法 2：

操作步驟錯(cuò)誤概率：另一種用于計(jì)算單克隆概率（PoC）的分析方法，是對(duì)克隆流程中每一獨(dú)立步驟的錯(cuò)誤率進(jìn)行觀測，并將這些錯(cuò)誤率相乘，從而估算出總體錯(cuò)誤率。該法常用于評(píng)估兩輪有限稀釋后的 PoC。以通用情形為例：若某方法包含三個(gè)步驟，且只有當(dāng)這三個(gè)步驟全部出錯(cuò)時(shí)，非單克隆細(xì)胞系才可能被漏檢，則該方法的總體錯(cuò)誤率（EM）等于第一步的錯(cuò)誤率（E1）、第二步的錯(cuò)誤率（E2）與第三步的錯(cuò)誤率（E3）的乘積。

• EM = E1 x E2 x E3

• PoC = 1 - E1 x E2 x E3

統(tǒng)計(jì)方法 3：

總體錯(cuò)誤率，即通過測定最終統(tǒng)計(jì)的“候選單克隆”細(xì)胞系中實(shí)際為非單克隆的比例，來評(píng)估整個(gè)系統(tǒng)的總體錯(cuò)誤率（EM）。

• EM = 方法總體錯(cuò)誤率 = 非單克隆數(shù) / 候選單克隆數(shù)

• PoC = 1 - 非單克隆數(shù) / 候選單克隆數(shù)

操作如圖 1：

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