multi N/C總有機碳分析儀在半導(dǎo)體行業(yè)中的應(yīng)用

背景介紹

隨著半導(dǎo)體技術(shù)的進步，設(shè)備微型化和集成化程度不斷提高，對制造環(huán)境的要求也越來越高。特別是在先進工藝節(jié)點（如7nm、5nm及更小節(jié)點）中，高TOC（總有機碳）水平可能導(dǎo)致晶圓表面污染，從而引發(fā)缺陷，影響最終產(chǎn)品的性能和良品率。因此，加強TOC監(jiān)控已成為半導(dǎo)體制造過程中的重要環(huán)節(jié)。

在半導(dǎo)體制作工藝中,80%以上的工序要經(jīng)過化學(xué)處理，而每一道化學(xué)處理都離不開超純水，用于半導(dǎo)體工藝的超純水，根據(jù)美國ASTM D5127-2013（2018）標準，一級電子級別水的TOC通常要求低于5ppb，GB/T 11446.1-2013要求一級電子級水低于20ppb。同時，生產(chǎn)工藝過程中電鍍液有機污染物的控制也很重要，不能超過一定的限值（3000-5000ppm）從而保證PCB（印制電路板）的品質(zhì)。

• 半導(dǎo)體行業(yè)TOC分析難點：
• 超純水中低TOC濃度的準確測定
• 電鍍液中高TOC濃度高鹽樣品的準確測定
• 不同數(shù)量級濃度樣品不能一次測定
• 維護成本高、耗材貴

德國耶拿解決方案

難點突破1：VITA流量管理系統(tǒng)
氧化過程中會引起氣體流速波動，德國耶拿采用VITA流量控制系統(tǒng)，集成式高性能氣體控制盒確保穩(wěn)定的氣體流速，通過電子控制實時調(diào)整氣體流量計數(shù)，有效的補償流速波動�？梢詫崿F(xiàn)高達20ml的大體積進樣，顯著提高痕量分析范圍內(nèi)測定結(jié)果的精密度和靈敏度，檢出限低至ppb級別。

案例一
超純水TOC測定

對超純水樣品進行直接測定，SD為0.272 μg/L ,檢出限為3SD=0.816 μg/L，遠低于國家對一級電子水的限值要求，可以滿足超純水中低TOC含量的準確測定。

難點突破2：可靠高效的樣品消解系統(tǒng)+高聚焦NDIR檢測器

高能長效紫外消解系統(tǒng)，采用高能雙波長紫外氧化254+185nm波長，更高能量，保證樣品完全消解為 CO2。德國耶拿首創(chuàng)的高聚焦NDIR檢測器，改變了傳統(tǒng)光源需要通過管壁折射后到達檢測器的設(shè)計，平行光源無機械移動、能量無損失、量程寬，測量范圍0-30000mg/L，滿足高TOC濃度高鹽樣品等多種類型樣品的測試需求。

案例二
電鍍液中TOC 測定

對3個電鍍液樣品進行直接測定，同時電鍍液2#和電鍍液3#做100ppm和1000ppm的加標回收率實驗，從實驗結(jié)果可以看出，結(jié)果重復(fù)性佳，電鍍液2#和電鍍液3的加標回收率為103%和101%，說明儀器對于高濃度的電鍍液能準確測定，耐鹽性好。

難點突破3：一個測試方法同時連接3條標準曲線
為了解決不同梯度樣品只能連接一條曲線，或是需要對樣品進行稀釋和富集的前處理繁瑣工作，我們設(shè)計了一個測試方法可以同時連接低中高濃度的標準曲線的功能，儀器會自動匹配合適的曲線，使測試結(jié)果更加準確可靠；同時，我們也提供同個樣品盤選擇不同方法的功能，滿足您測試的需求，大大減少前處理的時間。

難點突破4：少耗材+開放性試劑
高能長效紫外燈和高聚焦NDIR檢測器，壽命長，低故障，低損耗，低維護。采用半導(dǎo)體物理制冷模塊去除水分，無耗材；電路和液體完全分開，客戶可以放心自己更換耗材，無需專業(yè)工程師上門。測試用到的試劑均為開放試劑，可以自行購買，成本低，經(jīng)濟實惠。

綜上，德國耶拿multi N/C 總有機碳分析儀是半導(dǎo)體行業(yè)品控好幫手，可以有效控制半導(dǎo)體生產(chǎn)過程中TOC水平，維持化學(xué)工藝的穩(wěn)定性，降低因缺陷造成的返工和材料浪費，提高最終產(chǎn)品的性能和良品率。