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LSOM全新成像技術(shù)實(shí)現(xiàn)無標(biāo)記、遠(yuǎn)場的深超分辨成像

瀏覽次數(shù):134 發(fā)布日期:2026-3-12  來源:本站 僅供參考,謝絕轉(zhuǎn)載,否則責(zé)任自負(fù)

長久以來,光學(xué)顯微鏡的分辨率被禁錮在“阿貝衍射極限”(約半波長)的枷鎖中。突破這一極限,通常需要借助熒光標(biāo)記、近場掃描等侵入性或會(huì)改變樣品性質(zhì)的技術(shù)。然而,一項(xiàng)發(fā)表于2026年的開創(chuàng)性研究,向我們展示了一種截然不同的路徑:僅需知道被測物體在空間上是有限的,無需其他任何先驗(yàn)知識(shí)或標(biāo)記,就能在遠(yuǎn)場實(shí)現(xiàn)超越衍射極限的超分辨成像。

這項(xiàng)突破性工作由Taeyong Chang, Giorgio Adamo 與 Nikolay I. Zheludev共同完成,其研究成果以題為“Super-resolution imaging of limited-size objects”的論文形式,于2026年2月在線發(fā)表于國際頂級(jí)期刊《自然-光子學(xué)》(Nature Photonics)。

重要發(fā)現(xiàn)
本論文的核心貢獻(xiàn)是提出并實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了一種名為“有限尺寸物體顯微術(shù)”(Limited-Size Object Microscopy, LSOM)的全新成像技術(shù)。它僅基于“物體尺寸有限”這一最基礎(chǔ)的物理約束,便實(shí)現(xiàn)了無標(biāo)記、遠(yuǎn)場的深超分辨成像。

01核心原理:從“制造”超振蕩到“解讀”散射
LSOM技術(shù)的靈感源于“超振蕩熱點(diǎn)”生成的逆過程。傳統(tǒng)上,科學(xué)家可以通過在傅里葉平面(即光學(xué)系統(tǒng)的頻域)設(shè)計(jì)掩模,在物體平面一個(gè)有限區(qū)域內(nèi)合成出包含任意小細(xì)節(jié)(即超振蕩熱點(diǎn))的場分布。LSOM反其道而行之:將一個(gè)尺寸受限的未知物體散射的光場,視為一系列特殊基函數(shù)的組合。

這些基函數(shù)稱為Slepian-Pollak函數(shù)(一種扁球面波函數(shù))。關(guān)鍵之處在于,當(dāng)物體被嚴(yán)格限制在一個(gè)已知尺寸的視場(FOV)內(nèi)時(shí),其散射光場可以近乎完美地用有限個(gè)Slepian-Pollak函數(shù)來展開。光學(xué)系統(tǒng)(如顯微鏡)的衍射受限傳播過程,在數(shù)學(xué)上等價(jià)于對(duì)這些函數(shù)乘以一個(gè)衰減因子(特征值γ_i)。因此,理論上只要能從測量中恢復(fù)出這些函數(shù)的系數(shù),就能反演出物體的超分辨圖像。

02實(shí)驗(yàn)實(shí)現(xiàn):攻克超高精度測量難關(guān)
盡管原理在上世紀(jì)50年代就已提出,但實(shí)驗(yàn)實(shí)現(xiàn)一直被認(rèn)為是“不可行”的,因?yàn)楦唠ASlepian-Pollak系數(shù)的信號(hào)極其微弱(γ_i隨階數(shù)i急劇衰減),測量需要難以企及的超高精度。本研究團(tuán)隊(duì)通過精巧的光學(xué)設(shè)計(jì)與信息處理,成功跨越了這一障礙。

關(guān)鍵技術(shù)一:基于單像素探測的干涉測量系統(tǒng)。團(tuán)隊(duì)搭建了一套基于全內(nèi)反射(TIR)散射的顯微鏡,并耦合了一個(gè)共路干涉儀。其核心是一個(gè)可編程的數(shù)字微鏡器件(DMD),它被置于物鏡的后焦面(傅里葉平面)。通過編程DMD,可以每次從散射光中單獨(dú)“篩選”出一個(gè)特定的Slepian-Pollak模式,并讓其與一個(gè)固定的強(qiáng)參考模式發(fā)生干涉。通過測量干涉后的光強(qiáng),并以散粒噪聲為極限,可以精確解算出每個(gè)目標(biāo)模式的復(fù)系數(shù)(包括振幅和相位)。

關(guān)鍵技術(shù)二:矢量線性濾波器的構(gòu)建與校準(zhǔn)。真實(shí)光學(xué)系統(tǒng)存在像差和畸變,會(huì)混淆不同模式。為此,團(tuán)隊(duì)引入了一個(gè)關(guān)鍵的“矢量線性濾波器”。他們使用一個(gè)已知的校準(zhǔn)物體(如一個(gè)80納米的小點(diǎn)或細(xì)線),預(yù)先測量并構(gòu)建了一個(gè)濾波矩陣。這個(gè)矩陣能夠有效補(bǔ)償光學(xué)畸變,從而從實(shí)際測量到的、帶有噪聲的系數(shù)中,準(zhǔn)確估計(jì)出物體真實(shí)的Slepian-Pollak系數(shù)。

03實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證與性能評(píng)估
研究團(tuán)隊(duì)在波長λ=638納米下,對(duì)一系列尺寸小于0.8λ的鉑(Pt)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行了成像。實(shí)驗(yàn)成功恢復(fù)了13個(gè)Slepian-Pollak系數(shù),并重建出清晰的圖像。與數(shù)值孔徑(NA)為0.9的理想相干傅里葉成像(即傳統(tǒng)衍射極限成像)結(jié)果相比,LSOM圖像展現(xiàn)了驚人的細(xì)節(jié)分辨能力。

通過三種互補(bǔ)的指標(biāo)進(jìn)行評(píng)估:
有效數(shù)值孔徑:LSOM圖像的空間頻譜顯示,其有效信息帶寬遠(yuǎn)超物鏡的物理限制(對(duì)應(yīng)NA=0.9的紅圈),達(dá)到了平均3.14的有效NA(最高3.57)。

系統(tǒng)點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù):整個(gè)成像鏈(從測量到重建)的平均點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)半高全寬(FWHM)在二維成像中約為λ/6,在一維成像中約為λ/8。

西門子星分辨率測試:對(duì)一個(gè)納米級(jí)的“西門子星”樣品的分析表明,其可分辨的特征間距達(dá)到λ/7。

綜合而言,LSOM技術(shù)在實(shí)驗(yàn)中穩(wěn)定實(shí)現(xiàn)了約λ/7的二維分辨率和約λ/8的一維分辨率。此外,該方法對(duì)通過商業(yè)旋涂法制備的金(Au)納米顆粒同樣有效,證明了其對(duì)不同樣品制備方式的適用性。

創(chuàng)新與亮點(diǎn)
01突破了傳統(tǒng)超分辨成像對(duì)“強(qiáng)先驗(yàn)知識(shí)”的依賴難題
以往的無標(biāo)記超分辨技術(shù),往往需要假設(shè)物體具有“稀疏性”等特定結(jié)構(gòu),或依賴從同類物體中積累的數(shù)據(jù)庫。這些假設(shè)在觀察未知、復(fù)雜的新物體時(shí)往往不成立。LSOM技術(shù)將先驗(yàn)知識(shí)的要求降至最低——僅需“物體尺寸有限”,這是一個(gè)在觀察孤立納米物體(如病毒、蛋白質(zhì)復(fù)合體、納米顆粒)時(shí)幾乎自然滿足的物理?xiàng)l件,從而極大地拓寬了超分辨成像的適用邊界。

02驗(yàn)證完整可行的“有限尺寸物體顯微術(shù)”新框架
這不僅是一個(gè)原理性演示,更是一套從理論推導(dǎo)、系統(tǒng)構(gòu)建、噪聲分析到實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證的完整技術(shù)方案。其核心創(chuàng)新在于將信息論(量子克拉美-羅界)應(yīng)用于分析該問題的根本性能極限,明確了分辨率、光子預(yù)算(測量精度)和物體尺寸限制之間的權(quán)衡關(guān)系,并指導(dǎo)了實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)。特別是基于單像素干涉測量的系數(shù)提取方案和用于校準(zhǔn)畸變的矢量線性濾波器,是成功實(shí)現(xiàn)超高精度系數(shù)恢復(fù)的關(guān)鍵工程創(chuàng)新。

03全新通用的成像工具前景
在生物醫(yī)學(xué)研究中,許多重要的納米尺度的目標(biāo)(如外泌體、病毒顆粒、蛋白質(zhì)聚集體)本身不具有熒光或難以標(biāo)記,且形態(tài)復(fù)雜多變。LSOM技術(shù)無需標(biāo)記、僅依賴尺寸有限的前提,使其成為研究這類“原生狀態(tài)”生物納米顆粒的絕佳工具。它可用于環(huán)境監(jiān)測中的污染物顆粒分析、納米藥物載體的原位表征、以及細(xì)胞外囊泡等生物納米顆粒的無標(biāo)記成像與計(jì)數(shù)。盡管目前其視場較小,但通過樣品制備技術(shù)(如稀釋、確定性放置)控制顆粒間距,該技術(shù)已展現(xiàn)出解決實(shí)際生物醫(yī)學(xué)問題的潛力。此外,其原理也可拓展至計(jì)量學(xué)、光譜學(xué)和激光雷達(dá)等領(lǐng)域,為實(shí)現(xiàn)空間場分布的精確恢復(fù)提供了新范式。

總結(jié)與展望
本研究通過實(shí)驗(yàn)成功證實(shí),僅憑“物體尺寸有限”這一最基礎(chǔ)的先驗(yàn)知識(shí),便足以在遠(yuǎn)場實(shí)現(xiàn)無標(biāo)記的超分辨光學(xué)成像。LSOM技術(shù)利用Slepian-Pollak函數(shù)對(duì)受限光場進(jìn)行分解,并通過精心設(shè)計(jì)的干涉測量與濾波校準(zhǔn)方案,攻克了高階系數(shù)測量的精度瓶頸,最終實(shí)現(xiàn)了超越傳統(tǒng)衍射極限數(shù)倍的分辨率。這項(xiàng)工作不僅將一項(xiàng)長期被視為理論上可能、實(shí)踐上極端困難的技術(shù)變?yōu)楝F(xiàn)實(shí),更提供了一種與傳統(tǒng)基于標(biāo)記或特殊照明的超分辨方法互補(bǔ)的全新成像哲學(xué)。

展望未來,LSOM技術(shù)仍有廣闊的提升與發(fā)展空間。當(dāng)前的工作聚焦于視場內(nèi)孤立的納米物體,如何將視場擴(kuò)展至微米尺度,并實(shí)現(xiàn)對(duì)多個(gè)分散物體的同時(shí)成像,是邁向更廣泛應(yīng)用的關(guān)鍵一步。此外,探索與電子顯微鏡等技術(shù)的聯(lián)用,或?qū)⑵渑c基于稀疏性等其他先驗(yàn)知識(shí)的計(jì)算成像方法相結(jié)合,有望進(jìn)一步提升成像能力與效率。隨著系統(tǒng)集成度與自動(dòng)化程度的提高,LSOM有望從一個(gè)精密的實(shí)驗(yàn)裝置,演變?yōu)樯茖W(xué)、納米技術(shù)和材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)室中一種強(qiáng)有力的標(biāo)準(zhǔn)成像工具,幫助我們在無需干擾樣品自然狀態(tài)的前提下,窺見更深層次的納米世界。

論文信息
聲明:本文僅用作學(xué)術(shù)目的。
Taeyong Chang, Giorgio Adamo, Nikolay I. Zheludev
DOI:10.1038/s41566-025-01839-2.
發(fā)布者:羅輯技術(shù)(武漢)有限公司
聯(lián)系電話:13260667811
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