單細胞鋪板成像儀在單克隆建庫中的應(yīng)用

該公司科學(xué)家使用了三種統(tǒng)計方法進行驗證，分別是：

統(tǒng)計方法 1：

統(tǒng)計幽靈孔出現(xiàn)概率，也就是通過測量“幽靈孔”的出現(xiàn)頻率來評估——所謂幽靈孔，即最終形成了細胞克隆、但最初并未被檢測出其中存在單個或多個細胞的培養(yǎng)孔。這一頻率反映了單細胞克隆方法“漏檢”細胞的概率，我們將其表示為該方法的分?jǐn)?shù)錯誤率 EM：

• EM = 幽靈孔出現(xiàn)頻率

• PoC（單克隆概率）= 1 - 幽靈孔出現(xiàn)頻率

統(tǒng)計方法 2：

操作步驟錯誤概率：另一種用于計算單克隆概率（PoC）的分析方法，是對克隆流程中每一獨立步驟的錯誤率進行觀測，并將這些錯誤率相乘，從而估算出總體錯誤率。該法常用于評估兩輪有限稀釋后的 PoC。以通用情形為例：若某方法包含三個步驟，且只有當(dāng)這三個步驟全部出錯時，非單克隆細胞系才可能被漏檢，則該方法的總體錯誤率（EM）等于第一步的錯誤率（E1）、第二步的錯誤率（E2）與第三步的錯誤率（E3）的乘積。

• EM = E1 x E2 x E3

• PoC = 1 - E1 x E2 x E3

統(tǒng)計方法 3：

總體錯誤率，即通過測定最終統(tǒng)計的“候選單克隆”細胞系中實際為非單克隆的比例，來評估整個系統(tǒng)的總體錯誤率（EM）。

• EM = 方法總體錯誤率 = 非單克隆數(shù) / 候選單克隆數(shù)

• PoC = 1 - 非單克隆數(shù) / 候選單克隆數(shù)

操作如圖 1：

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