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443 次精準可靠的半導體失效分析制樣解決方案 2026-1-9
精準定位，真實暴露徠卡電鏡制樣為半導體失效分析提供決定性起點當你的FIB還在為尋找那個確切的失效點而耗時數(shù)小時，徠卡顯微系統(tǒng)的制樣方案已讓目標界面在電鏡下清晰呈現(xiàn)。半導體失效分析工程師
1758 次案例分享：液晶屏玻璃基板上線路結(jié)構(gòu)的觀察 2024-9-24
隨著電子產(chǎn)品的更新?lián)Q代，顯示屏的清晰度和色彩等要求越來越高。尤其手機更是如此，每出一款新的手機，顯示屏的對比度和光亮度、高速度等性能就會有一個質(zhì)的飛躍。我們今天來看看TFT-LCD內(nèi)部基板
1383 次利用EM TIC 3X進行離子束刻蝕 2024-9-6
在這篇文章中，您可以了解到如何通過使用EM TIC 3X離子束研磨拋光儀的離子束蝕刻工藝來優(yōu)化樣品的制備質(zhì)量。EM TIC 3X離子束研磨拋光儀EM TIC 3X是一種非聚焦離子束研磨設備，可用于制備截面和平
1515 次徠卡EM TIC3X三離子束切割拋光儀在地質(zhì)樣品中的應用 2020-9-14
用于掃描電鏡分析的地質(zhì)樣品有油頁巖、煤層、礦石、土壤和沉積物等多種類型，而對這些樣品進行制樣處理的主要操作就是獲得一個無損傷的平整面。機械切割和機械磨拋很難避免處理過程中造成樣品的