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443 次 精準(zhǔn)可靠的半導(dǎo)體失效分析制樣解決方案 2026-1-9
精準(zhǔn)定位，真實(shí)暴露徠卡電鏡制樣為半導(dǎo)體失效分析提供決定性起點(diǎn)當(dāng)你的FIB還在為尋找那個(gè)確切的失效點(diǎn)而耗時(shí)數(shù)小時(shí)，徠卡顯微系統(tǒng)的制樣方案已讓目標(biāo)界面在電鏡下清晰呈現(xiàn)。半導(dǎo)體失效分析工程師
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1755 次 案例分享：液晶屏玻璃基板上線路結(jié)構(gòu)的觀察 2024-9-24
隨著電子產(chǎn)品的更新?lián)Q代，顯示屏的清晰度和色彩等要求越來越高。尤其手機(jī)更是如此，每出一款新的手機(jī)，顯示屏的對(duì)比度和光亮度、高速度等性能就會(huì)有一個(gè)質(zhì)的飛躍。我們今天來看看TFT-LCD內(nèi)部基板
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1383 次 利用EM TIC 3X進(jìn)行離子束刻蝕 2024-9-6
在這篇文章中，您可以了解到如何通過使用EM TIC 3X離子束研磨拋光儀的離子束蝕刻工藝來優(yōu)化樣品的制備質(zhì)量。EM TIC 3X離子束研磨拋光儀EM TIC 3X是一種非聚焦離子束研磨設(shè)備，可用于制備截面和平
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1515 次 徠卡EM TIC3X三離子束切割拋光儀在地質(zhì)樣品中的應(yīng)用 2020-9-14
用于掃描電鏡分析的地質(zhì)樣品有油頁巖、煤層、礦石、土壤和沉積物等多種類型，而對(duì)這些樣品進(jìn)行制樣處理的主要操作就是獲得一個(gè)無損傷的平整面。機(jī)械切割和機(jī)械磨拋很難避免處理過程中造成樣品的
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